| 試験データ | |||
| 項目 | 規格値 | 測定値 | |
| 耐電圧試験 | 1,000V 1分間異常なきこと | 1,000V 1分間異常なし | |
| 充電電流値 | 5mA以下 * | 0.4mA | |
| 引張試験(外層) | |||
| 常態 | 14mPa以上 * | ||
| 熱老化72℃168時間後 | 残留率70%以上 * | 95% | |
| 熱老化72℃168時間後 | 残留率70%以上 | 99% | |
| 引張試験(内層) | |||
| 常態 | |||
| 熱老化72℃168時間後 | |||
| 熱老化72℃168時間後 | |||
| テーバ磨耗試験 | |||
| 耐貫通(外層) | |||
| 耐貫通(内層) | |||
| 試験データ | |||
| 項目 | 規格値 | 測定値 | |
| 耐電圧試験 | 1,000V 1分間異常なきこと | 1,000V 1分間異常なし | |
| 充電電流値 | 5mA以下 * | 0.4mA | |
| 引張試験(外層) | |||
| 常態 | 14mPa以上 * | ||
| 熱老化72℃168時間後 | 残留率70%以上 * | 95% | |
| 熱老化72℃168時間後 | 残留率70%以上 | 99% | |
| 引張試験(内層) | |||
| 常態 | |||
| 熱老化72℃168時間後 | |||
| 熱老化72℃168時間後 | |||
| テーバ磨耗試験 | |||
| 耐貫通(外層) | |||
| 耐貫通(内層) | |||